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图片 名称/价格/厂家 参数 详细资料
名称:WBL-820全自动比表面积及孔隙度分
市场价格:¥148000
优惠价格:118400
厂家: 【上海仪电物光】折射仪,旋光仪,浊度仪,熔点仪
型号:WBL-820
是否有现货:
WBL系列全自动比表面积及孔隙度分析仪参照ISO9277、ISO15901国际标准和GB-119587国家标准,依据静态容量法测量原理,通过质量平衡方程、静态气体平衡和压力测定来测试吸脱附过程,测试过程在液氮温度下进行。已知量气体充入样品... 详细
名称:WBL-830全自动比表面积及孔隙度分
市场价格:¥178000
优惠价格:142400
厂家: 【上海仪电物光】折射仪,旋光仪,浊度仪,熔点仪
型号:WBL-830
是否有现货:
WBL系列全自动比表面积及孔隙度分析仪参照ISO9277、ISO15901国际标准和GB-119587国家标准,依据静态容量法测量原理,通过质量平衡方程、静态气体平衡和压力测定来测试吸脱附过程,测试过程在液氮温度下进行。已知量气体充入样品... 详细
名称:WBL-830全自动比表面积及孔隙度分
市场价格:¥178000
优惠价格:142400
厂家: 【上海仪电物光】折射仪,旋光仪,浊度仪,熔点仪
型号:WBL-830
是否有现货:
WBL系列全自动比表面积及孔隙度分析仪参照ISO9277、ISO15901国际标准和GB-119587国家标准,依据静态容量法测量原理,通过质量平衡方程、静态气体平衡和压力测定来测试吸脱附过程,测试过程在液氮温度下进行。已知量气体充入样品... 详细
名称:WBL-830全自动比表面积及孔隙度分
市场价格:¥178000
优惠价格:142400
厂家: 【上海仪电物光】折射仪,旋光仪,浊度仪,熔点仪
型号:WBL-830
是否有现货:
WBL系列全自动比表面积及孔隙度分析仪参照ISO9277、ISO15901国际标准和GB-119587国家标准,依据静态容量法测量原理,通过质量平衡方程、静态气体平衡和压力测定来测试吸脱附过程,测试过程在液氮温度下进行。已知量气体充入样品... 详细
名称:上海仪电物光WKL-722粉尘形貌分散
市场价格:¥55000
优惠价格:44000
厂家: 【上海仪电物光】折射仪,旋光仪,浊度仪,熔点仪
型号:WKL-722
是否有现货:
工作原理 WKL-722粉尘形貌分散度测试仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行粉尘分散度分析和粒度测量的粉尘分析系统,由光学显微镜、数字CCD摄像机和粉尘分散度处理分析软件组成。该系统通... 详细
名称:上海仪电物光WBL系列全自动比表面
市场价格:¥面议
优惠价格:面议
厂家: 【上海仪电物光】折射仪,旋光仪,浊度仪,熔点仪
型号:WBL系列
是否有现货:
WBL系列全自动比表面积及孔隙度分析仪参照ISO9277、ISO15901国际标准和GB-119587国家标准,依据静态容量法测量原理,通过质量平衡方程、静态气体平衡和压力测定来测试吸脱附过程,测试过程在液氮温度下进行。已知量气体充入样品... 详细
名称:上海仪电物光WKL-702颗粒图像分析
市场价格:¥55000
优惠价格:44000
厂家: 【上海仪电物光】折射仪,旋光仪,浊度仪,熔点仪
型号:WKL-702
是否有现货:
工作原理: WKL-702颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和粒度测量的颗粒分析系统,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用... 详细
名称:上海仪电物光WJL-602型激光粒度仪
市场价格:¥68000
优惠价格:54400
厂家: 【上海仪电物光】折射仪,旋光仪,浊度仪,熔点仪
型号:WJL-602
是否有现货:
详细介绍: 采用全量程米氏散射理论 1、测量范围:0.1~600微米 2、准确性误差:〈±1%(国家标准物质D50) 重复性偏差:〈±1%(国家标准物质D50) 电气要求:交流220±10V,50Hz, 200W 外观尺寸:1000×330×320mm... 详细
名称:上海仪电物光WJL-612型激光粒度仪
市场价格:¥116000
优惠价格:92800
厂家: 【上海仪电物光】折射仪,旋光仪,浊度仪,熔点仪
型号:WJL-612
是否有现货:
详细介绍: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有... 详细
名称:上海仪电物光WJL-626型激光粒度仪
市场价格:¥180000
优惠价格:144000
厂家: 【上海仪电物光】折射仪,旋光仪,浊度仪,熔点仪
型号:WJL-626
是否有现货:
详细介绍: 工作原理: 采用全量程米氏散射理论,充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质,根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束... 详细
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